-
Методы и результаты определения помехоустойчивости зондового оборудования и экспериментальных исследований аппаратуры испытаний на электромагнитную совместимость по кондуктивным помехам при метрологической аттестации
Минченко, В. А., Ковальчук, Г. Ф., Вискушенко, А. А., Школык, С. Б.
Методы и результаты определения помехоустойчивости зондового оборудования и экспериментальных исследований аппаратуры испытаний на электромагнитную совместимость по кондуктивным помехам при метрологической аттестации, [Текст]
ил., табл.
Метрология и приборостроение, 2013, № 3. - С. 24-34
-
Принципы построения и структурные схемы зондовых автоматических систем контроля параметров изделий микро- и наноэлектроники пластин
Ковальчук, Г. Ф., Минченко, В. А., Школык, С. Б.
Принципы построения и структурные схемы зондовых автоматических систем контроля параметров изделий микро- и наноэлектроники пластин, [Текст]
Приборы и методы измерений, 2012, №2. - С. 67-75
-
Особенности измерительных каналов зондовых широкополосных систем ВЧ- и СВЧ-диапазонов для микро- и наноэлектроники
Минченко, В. А.
Особенности измерительных каналов зондовых широкополосных систем ВЧ- и СВЧ-диапазонов для микро- и наноэлектроники, [Текст]
ил.
Метрология и приборостроение, 2021, № 2. - С. 33-38
-
Методы и результаты определения параметров измерительных каналов передачи широкополосных сигналов зондовых систем для контроля изделий микро- и наноэлектроники на кристалле
Ковальчук, Г. Ф., Минченко, В. А., Школьник, С. Б.
Методы и результаты определения параметров измерительных каналов передачи широкополосных сигналов зондовых систем для контроля изделий микро- и наноэлектроники на кристалле, [Текст]
Метрология и приборостроение, 2012, № 4. - С. 28-32
-
Методы и средства автоматического зондового контроля микро-, нано- и СВЧ-структур на пластине и кристалле
Минченко, В. А., Ковальчук, Г. Ф., Школык, С. Б., Зайцев, В. А.
Методы и средства автоматического зондового контроля микро-, нано- и СВЧ-структур на пластине и кристалле, [Текст]
ил.
Метрология и приборостроение, 2014, № 2. - С. 23-36
-
Методы и результаты экспериментального определения частотных характеристик и S-параметров СВЧ-контактирующих устройств зондовіх систем для контроля полупроводниковых структур на пластине
Минченко, В. А.
Методы и результаты экспериментального определения частотных характеристик и S-параметров СВЧ-контактирующих устройств зондовіх систем для контроля полупроводниковых структур на пластине, [Текст]
ил.
Метрология и приборостроение, 2016, № 4. - С. 10-12
-
Принципы построения и параметры комплекса тестового зондового технологического контроля полупроводниковых структур интегральных микросхем и специальных RFID-микросхем на пластине
Минченко, В. А., Ковальчук, Г. Ф., Зайцев, В. А., Мартиновский, И. П.
Принципы построения и параметры комплекса тестового зондового технологического контроля полупроводниковых структур интегральных микросхем и специальных RFID-микросхем на пластине, [Текст]
ил., табл.
Метрология и приборостроение, 2016, № 1. - С. 31-38
