Поиск

Методы и результаты экспериментального определения частотных характеристик и S-параметров СВЧ-контактирующих устройств зондовіх систем для контроля полупроводниковых структур на пластине

Авторы: Минченко, В. А.
Подробная информация
Индекс УДК 621.382.088
Методы и результаты экспериментального определения частотных характеристик и S-параметров СВЧ-контактирующих устройств зондовіх систем для контроля полупроводниковых структур на пластине
Текст
Метрология и приборостроение
2016
№ 4. - С. 10-12