Поиск

Фотоэлектрические свойства слоев GaN, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии с плазменной активацией на подложках Si(111) и эпитаксиальных слоях SiC на Si(111)

Авторы: Кукушкин, С. А. Буравлёв, А. Д. Мизеров, А. М. Гращенко, А. С. Осипов, А. В. Никитина, Е. В. Тимошнев, С. Н. Буравлев, А. Д.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/695490749
Дата корректировки 16:20:27 14 января 2022 г.
10.21883/FTP.2019.02.47097.8915
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Кукушкин, С. А.
Фотоэлектрические свойства слоев GaN, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии с плазменной активацией на подложках Si(111) и эпитаксиальных слоях SiC на Si(111)
Электронный ресурс
The photoelectric properties of the GaN layers grown by the PA MBE on Si(111) substrates and SiC/Si(111) epitaxial layers
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 27 назв.
Аннотация Приведены результаты экспериментальных исследований фотоэлектрических свойств гетероструктур GaN/SiC/Si(111) и GaN/Si(111), выращенных методом молекулярно-пучковой эпитаксии с плазменной активацией азота при одинаковых условиях роста на одинаковых подложках кремния, но с различными буферными слоями. Структура GaN/SiC/Si(111) была выращена на подложке Si с буферным слоем SiC, выращенным новым методом замещения атомов, структура GaN/Si(111) на подложке Si, подвергнутой предэпитаксиальной плазменной нитридизации. Обнаружено существенное влияние углеродно-вакансионных кластеров, присутствующих в слое SiC, на механизм роста слоя GaN, его оптические и фотоэлектрические свойства. Экспериментально установлено, что гетероструктура GaN/SiC/Si(111) обладает более высокой фоточувствительностью по сравнению с гетероструктурой GaN/Si(111). В гетероструктуре GaN/SiC/Si(111) экспериментально обнаружено существование двух, противоположно направленных p-n-переходов. Один p-n-переход образуется на границе SiC/Si, а второй - на границе GaN/SiC. Показано, что причиной возникновения электрического барьера в гетероструктуре GaN/Si(111), на гетерогранице GaN/Si(111) является формирование тонкого переходного слоя нитрида кремния во время предэпитаксиальной плазменной нитридизации подложки Si(111).
Буравлёв, А. Д.
Ключевые слова нитрид галлия
молекулярно-лучевая эпитаксия
плазменная активация
гетероструктуры
углеродно-вакасионные кластеры
гексагональные политипы
Мизеров, А. М.
Гращенко, А. С.
Осипов, А. В.
Никитина, Е. В.
Тимошнев, С. Н.
Буравлев, А. Д.
Соболев, М. С.
Физика и техника полупроводников
2019
Т. 53, вып. 2. - С. 190-198
Имя макрообъекта Кукушкин_фотоэлектрические
Тип документа b