Поиск

Влияние режимов электрохимического травления на морфологию, структурные и оптические свойства пористого арсенида галлия

Авторы: Середин, П. В. Леньшин, А. С. Федюкин, А. В. Голощапов, Д. Л. Лукин, А. Н. Арсентьев, И. Н. Жаботинский, А. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/689785644
Дата корректировки 15:10:38 9 ноября 2021 г.
10.21883/FTP.2018.09.46231.8659
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Середин, П. В.
Влияние режимов электрохимического травления на морфологию, структурные и оптические свойства пористого арсенида галлия
Электронный ресурс
Influence of electric-chemical etching modes on morphology, structural and optical properties of porous gallium arsenide
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 25 назв.
Аннотация Методами рентгеновской дифракции, электронной микроскопии, инфракрасной и ультрафиолетовой спектроскопии в работе изучены свойства образцов пористого GaAs, полученного методом электрохимического травления монокристаллических пластин n-GaAs(100). Удалось показать, что подбором состава электролита и условий травления могут быть получены образцы не только с различной степенью пористости и размером пор (нано/микро), но и иным типом поверхности образца. Травление n-GaAs(100) в выбранных условиях не приводит к изменению ориентации пористого слоя относительно ориентации монокристаллической подложки GaAs(100), ведет к уменьшению полуширины дифракционного максимума по сравнению с исходной пластиной, приводит к расщеплению фононной моды в инфракрасных спектрах и частотному сдвигу компонент с учетом параметров анодного травления, а также меняет оптические свойства в ультрафиолетовом диапазоне.
Ключевые слова электрохимическое травление
арсенид галлия
рентгеновской дифракция
электронная микроскопия
ультрафиолетовая спектроскопия
инфракрасная спектроскопия
монокристаллические пластины
Леньшин, А. С.
Федюкин, А. В.
Голощапов, Д. Л.
Лукин, А. Н.
Арсентьев, И. Н.
Жаботинский, А. В.
Физика и техника полупроводников
2018
Т. 52, вып. 9. - С. 1041-1048
Имя макрообъекта Середин_влияние
Тип документа b