Поиск

Влияние потенциала рассеяния на радиационных дефектах на перенос носителей заряда в GaAs-структурах

Авторы: Забавичев, И. Ю. Пузанов, А. С. Оболенский, С. В. Козлов, В. А.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/676392101
Дата корректировки 14:44:30 7 июня 2021 г.
10.21883/FTP.2020.09.49837.31
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Забавичев, И. Ю.
Влияние потенциала рассеяния на радиационных дефектах на перенос носителей заряда в GaAs-структурах
Электронный ресурс
Impact of defect cluster scattering potential on carrier transport in GaAs semiconductor structures
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 26 назв.
Аннотация Проведено численное моделирование изменения подвижности носителей заряда после радиационного воздействия в GaAs-структурах. Для каждого исследуемого потенциала рассеяния получены значения модельных параметров, при которых результаты расчета согласуются с экспериментальными данными. Впервые показано, что вид потенциала рассеяния на радиационных дефектах определяет временную и пространственную динамику всплеска скорости в коротких структурах.
Ключевые слова радиационные дефекты
Монте-Карло, метод
кластеры радиационных дефектов
эффект всплеска скорости
Пузанов, А. С.
Оболенский, С. В.
Козлов, В. А.
Физика и техника полупроводников
2020
Т. 54, вып. 9. - С. 945-951
Имя макрообъекта Забавичев_влияние
Тип документа b