-
Методы и результаты определения помехоустойчивости зондового оборудования и экспериментальных исследований аппаратуры испытаний на электромагнитную совместимость по кондуктивным помехам при метрологической аттестации
Минченко, В. А., Ковальчук, Г. Ф., Вискушенко, А. А., Школык, С. Б.
Методы и результаты определения помехоустойчивости зондового оборудования и экспериментальных исследований аппаратуры испытаний на электромагнитную совместимость по кондуктивным помехам при метрологической аттестации, [Текст]
ил., табл.
Метрология и приборостроение, 2013, № 3. - С. 24-34
-
Космическая трибология: состояние и перспективы
Мышкин, Н. К., Григорьев, А. Я., Басинюк, В. Л., Мардосевич, Е. И., Ковальчук, Г. Ф., Папина, С. С., Ковалева, И. Н., Кудрицкий, В. Г.
Космическая трибология: состояние и перспективы, [Текст]
ил.
Механика машин, механизмов и материалов, 2012, № 3-4. - С. 126-130
-
Принципы построения и структурные схемы зондовых автоматических систем контроля параметров изделий микро- и наноэлектроники пластин
Ковальчук, Г. Ф., Минченко, В. А., Школык, С. Б.
Принципы построения и структурные схемы зондовых автоматических систем контроля параметров изделий микро- и наноэлектроники пластин, [Текст]
Приборы и методы измерений, 2012, №2. - С. 67-75
-
Методы и результаты определения параметров измерительных каналов передачи широкополосных сигналов зондовых систем для контроля изделий микро- и наноэлектроники на кристалле
Ковальчук, Г. Ф., Минченко, В. А., Школьник, С. Б.
Методы и результаты определения параметров измерительных каналов передачи широкополосных сигналов зондовых систем для контроля изделий микро- и наноэлектроники на кристалле, [Текст]
Метрология и приборостроение, 2012, № 4. - С. 28-32
-
Методы и средства автоматического зондового контроля микро-, нано- и СВЧ-структур на пластине и кристалле
Минченко, В. А., Ковальчук, Г. Ф., Школык, С. Б., Зайцев, В. А.
Методы и средства автоматического зондового контроля микро-, нано- и СВЧ-структур на пластине и кристалле, [Текст]
ил.
Метрология и приборостроение, 2014, № 2. - С. 23-36
-
Принципы построения и параметры комплекса тестового зондового технологического контроля полупроводниковых структур интегральных микросхем и специальных RFID-микросхем на пластине
Минченко, В. А., Ковальчук, Г. Ф., Зайцев, В. А., Мартиновский, И. П.
Принципы построения и параметры комплекса тестового зондового технологического контроля полупроводниковых структур интегральных микросхем и специальных RFID-микросхем на пластине, [Текст]
ил., табл.
Метрология и приборостроение, 2016, № 1. - С. 31-38
