-
Спектральные и рентгеновские исследования пленок оксида индия на сапфировых подложках
Тихий, А. А., Николаенко, Ю. М., Жихарева, Ю. И., Жихарев, И. В.
Спектральные и рентгеновские исследования пленок оксида индия на сапфировых подложках, [Электронный ресурс]
ил., табл.
Оптика и спектроскопия, 2020, Т. 128, вып. 10. - С. 1544-1547
Тихий_спектральные
-
Моделирование переходных слоев на границах тонкоплeночных покрытий при эллипсометрических измерениях
Тихий, А. А., Николаенко, Ю. М., Корнеевец, А. С., Свиридова, Е. А., Жихарева, Ю. И., Жихарев, И. В.
Моделирование переходных слоев на границах тонкоплeночных покрытий при эллипсометрических измерениях, Тихий А. А., Николаенко Ю. М., Корнеевец А. С. [и др.]
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2019 .-
Т. 86, № 6. - С. 942-946 .-
-
Влияние термических условий получения и обработки на оптические свойства пленок In[2]O[3]
Тихий, А. А., Жихарёва, Ю. И., Жихарёв, И. В. , Николаенко, Ю. М., Жихарева, Ю. И., Корнеевец, А. С., Жихарев, И. В.
ил., табл.
// Физика и техника полупроводников .-
2018 .-
Т. 52, вып. 3. - С. 337-341 .-
Тихий_влияние
-
Учет сложной структуры поверхности при эллипсометрических исследованиях влияния режимов магнетронного распыления на рост и оптические свойства пленок In[2]O[3]
Тихий, А. А., Николаенко, Ю. М., Грицких, В. А., Свиридова, Е. А., Мурга, В. В., Жихарева, Ю. И., Жихарев, И. В.
Учет сложной структуры поверхности при эллипсометрических исследованиях влияния режимов магнетронного распыления на рост и оптические свойства пленок In[2]O[3], [[Текст]], А. А. Тихий [и др.]
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2018 .-
Т. 85, № 1. - С. 161-167 .-
-
Оптические и рентгеновские исследования пленок оксида индия на сапфировых подложках
Тихий, А. А., Свиридова, Е. А., Жихарева, Ю. И., Жихарев, И. В.
Оптические и рентгеновские исследования пленок оксида индия на сапфировых подложках, А. А. Тихий, Е. А. Свиридова, Ю. И. Жихарева, И. В. Жихарев
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2021 .-
Т. 88, № 5. - С. 743-747 .-
