-
Моделирование переходных слоев на границах тонкоплeночных покрытий при эллипсометрических измерениях
Тихий, А. А., Николаенко, Ю. М., Корнеевец, А. С., Свиридова, Е. А., Жихарева, Ю. И., Жихарев, И. В.
Моделирование переходных слоев на границах тонкоплeночных покрытий при эллипсометрических измерениях, Тихий А. А., Николаенко Ю. М., Корнеевец А. С. [и др.]
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2019 .-
Т. 86, № 6. - С. 942-946 .-
-
Формирование плёнок In[2]O[3] методом магнетронного напыления на подложках Al[2]O[3] (012)
Тихий, А. А., Николаенко, Ю. М., Свиридова, Е. А., Жихарев, И. В.
Формирование плёнок In[2]O[3] методом магнетронного напыления на подложках Al[2]O[3] (012), А. А. Тихий, Ю. М. Николаенко, Е. А. Свиридова, И. В. Жихарев
1 файл (107 Кб) .-
Загл. с титул. экрана .-
// Оптика и спектроскопия .-
2022 .-
Т. 130, № 8. - С. 1170-1173 .-
-
Учет сложной структуры поверхности при эллипсометрических исследованиях влияния режимов магнетронного распыления на рост и оптические свойства пленок In[2]O[3]
Тихий, А. А., Николаенко, Ю. М., Грицких, В. А., Свиридова, Е. А., Мурга, В. В., Жихарева, Ю. И., Жихарев, И. В.
Учет сложной структуры поверхности при эллипсометрических исследованиях влияния режимов магнетронного распыления на рост и оптические свойства пленок In[2]O[3], [[Текст]], А. А. Тихий [и др.]
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2018 .-
Т. 85, № 1. - С. 161-167 .-
-
Оптические и рентгеновские исследования пленок оксида индия на сапфировых подложках
Тихий, А. А., Свиридова, Е. А., Жихарева, Ю. И., Жихарев, И. В.
Оптические и рентгеновские исследования пленок оксида индия на сапфировых подложках, А. А. Тихий, Е. А. Свиридова, Ю. И. Жихарева, И. В. Жихарев
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2021 .-
Т. 88, № 5. - С. 743-747 .-
