-
Сегнетоэлектрические свойства пленок легированного ниобием танталата стронция-висмута
Голосов, Д. А., Завадский, С. М., Колос, В. В., Турцевич, А. С.
Сегнетоэлектрические свойства пленок легированного ниобием танталата стронция-висмута, [Электронный ресурс]
ил., табл.
// Физика твердого тела .-
2016 .-
Т. 58, вып. 1. - С. 51-55 .-
Голосов_сегнетоэлектрические
-
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин
Воробей, Р. И., Гусев, О. К., Жарин, А. Л., Петлицкий, А. Н., Пилипенко, В. А., Турцевич, А. С., Тявловский, А. К., Тявловский, К. Л.
Контроль дефектов структуры кремний-диэлектрик на основе анализа пространственного распределения потенциала по поверхности полупроводниковых пластин, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2013, № 2. - С. 67-72
-
Сегрегационно-индуцированное формирование нанокристаллов Ge в оксиде кремния
Наливайко, О. Ю., Турцевич, А. С., Плебанович, В. И., Гайдук, П. И.
Сегрегационно-индуцированное формирование нанокристаллов Ge в оксиде кремния, О. Ю. Наливайко, А. С. Турцевич, В. И. Плебанович, П. И. Гайдук
2022 .-
6 рис.
-
Режим самокалибровки зонда Кельвина для контроля электрофизических параметров полупроводниковых пластин
Воробей, Р. И., Гусев, О. К., Жарин, А. Л., Петлицкий, А. Н., Пилипенко, В. А., Турцевич, А. С., Тявловский, А. К.
Режим самокалибровки зонда Кельвина для контроля электрофизических параметров полупроводниковых пластин, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2014, № 2. - С. 46-52
-
Идентификация фаз силицидов никеля на поверхности кремния по спектрам комбинационного рассеяния света
Солодуха, В. А., Турцевич, А. С., Соловьев, Я. А., Сарычев, О. Э., Мильчанин, О. В.
Идентификация фаз силицидов никеля на поверхности кремния по спектрам комбинационного рассеяния света, [Текст]
Журнал прикладной спектроскопии, 2012, Т. 79, № 6. - С. 1002-1005
-
Оценка тепловых параметров мощных биполярных транзисторов методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии
Нисс, В. С., Васьков, О. С., Турцевич, А. С., Керенцев, А. Ф., Кононенко, В. К.
Оценка тепловых параметров мощных биполярных транзисторов методом тепловой релаксационной дифференциальной спектрометрии, [Текст]
ил.
Приборы и методы измерений, 2015, Т. 6, № 2. - С. 249-256
-
Приборно-технологическое моделирование и исследование экспериментальных образцов кремниевого стабилитрона
Дудар, Н. Л., Борздов, В. М., Турцевич, А. С.
Приборно-технологическое моделирование и исследование экспериментальных образцов кремниевого стабилитрона, [Текст]
Инженерно-физический журнал, 2014, Т. 87, № 4. - С. 961-965
-
Создание слоя микропористого кремния путем имплантации ионов сурьмы
Садовский, П. К., Челядинский, А. Р., Оджаев, В. Б., Тарасик, М. И. , Турцевич, А. С., Васильев, Ю. Б.
Создание слоя микропористого кремния путем имплантации ионов сурьмы, [Текст]
ил., табл.
Вестник БГУ. Сер. 1, Физика. Математика. Информатика, 2013, № 2. - С. 15-19
