| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/675182409 |
| Дата корректировки | 14:55:18 24 мая 2021 г. |
| Служба первич. каталог. | Шавель |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.315.592 |
| Ерофеева, И. В. | |
|
Кристаллическая структура и термоэлектрические свойства тонких слоев MnSi[x] Электронный ресурс |
|
| Si[1-x]Mn[x] thin films crystal structure and thermoelectric properties | |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 14 назв. |
| Аннотация | Методом импульсного лазерного осаждения получены тонкие (25 нм) пленки Si[1-x]Mn[x] на Si(100). По данным высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, пленки представляют собой нанотекстурированный кристалл химически однородного состава. Исследованы температурные зависимости удельного сопротивления и термоэдс в интервале 300-500 K, рассчитана температурная зависимость коэффициента Зеебека и фактора мощности. |
| Ключевые слова | импульсное лазерное осаждение |
|
термоэлектрические преобразователи полупроводниковые материалы силицид марганца тонкие слои кристаллическая структура |
|
|
Дорохин, М. В. Лесников, В. П. Здоровейщев, А. В. Кудрин, А. В. Павлов, Д. А. Усов, Ю. В. |
|
| Название источника | Физика и техника полупроводников |
| Место и дата издания | 2016 |
| Прочая информация | Т. 50, вып. 11. - С. 1473-1478 |
| Имя макрообъекта | Ерофеева_кристаллическая |
| Тип документа | b |
