Поиск

Кристаллическая структура и термоэлектрические свойства тонких слоев MnSi[x]

Авторы: Ерофеева, И. В. Дорохин, М. В. Лесников, В. П. Здоровейщев, А. В. Кудрин, А. В. Павлов, Д. А. Усов, Ю. В.
Подробная информация
Индекс УДК 621.315.592
Кристаллическая структура и термоэлектрические свойства тонких слоев MnSi[x]
Электронный ресурс
Аннотация Методом импульсного лазерного осаждения получены тонкие (25 нм) пленки Si[1-x]Mn[x] на Si(100). По данным высокоразрешающей просвечивающей электронной микроскопии, пленки представляют собой нанотекстурированный кристалл химически однородного состава. Исследованы температурные зависимости удельного сопротивления и термоэдс в интервале 300-500 K, рассчитана температурная зависимость коэффициента Зеебека и фактора мощности.
Ключевые слова импульсное лазерное осаждение
Название источника Физика и техника полупроводников
Место и дата издания 2016
Прочая информация Т. 50, вып. 11. - С. 1473-1478
Имя макрообъекта Ерофеева_кристаллическая