Поиск

Влияние дефектов на кинетику фотолюминесценции структур с квантовыми точками GaN/AlN

Авторы: Александров, И. А. Журавлёв, К. С. Журавлев, К. С. Мансуров, В. Г.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/669544745
Дата корректировки 14:35:19 20 марта 2021 г.
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592:535.33
Автор Александров, И. А.
Заглавие Влияние дефектов на кинетику фотолюминесценции структур с квантовыми точками GaN/AlN
Физич. носитель Электронный ресурс
Effect of defects in an AlN barrier on photoluminescence kinetics of GaN/AlN quantum dots
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 12 назв.
Аннотация Исследовано влияние дефектов в барьере AlN на кривые затухания фотолюминесценции структур с квантовыми точками GaN в матрице AlN после импульсного возбуждения. В кривых затухания структур с квантовыми точками обнаружен начальный участок быстрого затухания фотолюминесценции. Сравнение кривых затухания фотолюминесценции структур с квантовыми точками и слоев AlN без квантовых точек показало, что этот участок связан с вкладом полосы фотолюминесценции дефектов матрицы AlN.
Служебное примечание Журавлёв, К. С.
Ключевые слова фотолюминесценция
кинетика
квантовые точки
молекулярно-лучевая эпитаксия
кривые затухания
Другие авторы Журавлев, К. С.
Мансуров, В. Г.
Название источника Физика и техника полупроводников
Место и дата издания 2016
Прочая информация Т. 50, вып. 2. - С. 191-194
Имя макрообъекта Александров_влияние
Тип документа b