Индекс УДК
|
621.315.592:535.33 |
Автор
|
Александров, И. А. |
Заглавие
|
Влияние дефектов на кинетику фотолюминесценции структур с квантовыми точками GaN/AlN |
Физич. носитель
|
Электронный ресурс |
Аннотация
|
Исследовано влияние дефектов в барьере AlN на кривые затухания фотолюминесценции структур с квантовыми точками GaN в матрице AlN после импульсного возбуждения. В кривых затухания структур с квантовыми точками обнаружен начальный участок быстрого затухания фотолюминесценции. Сравнение кривых затухания фотолюминесценции структур с квантовыми точками и слоев AlN без квантовых точек показало, что этот участок связан с вкладом полосы фотолюминесценции дефектов матрицы AlN. |
Ключевые слова
|
фотолюминесценция |
Другие авторы
|
Журавлев, К. С. |
Название источника
|
Физика и техника полупроводников |
Место и дата издания
|
2016 |
Прочая информация
|
Т. 50, вып. 2. - С. 191-194 |
Имя макрообъекта
|
Александров_влияние |