| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/542974215 |
| Дата корректировки | 10:10:15 16 марта 2017 г. |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 546.2 |
| Шерченков, А. А. | |
|
Интегральный изоконверсионный метод оценки параметров кристаллизации тонких пленок материалов фазовой памяти Ge[2]Sb[2]Te[5] Текст |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил |
| Библиография | Библиогр.:21 назв |
|
кинетика процесса кристаллизации интегральный метод изоконверсионный метод тонкие пленки фазовая память калориметрия |
|
|
Козюхин, С. А. Бабич, А. В. Лазаренко, П. И. Варгунин, А. И. |
|
|
Неорганические материалы 2017 Т.53, № 1. - С.21-25 |
|
| Тип документа | b |
