Поиск

Интегральный изоконверсионный метод оценки параметров кристаллизации тонких пленок материалов фазовой памяти Ge[2]Sb[2]Te[5]

Авторы: Шерченков, А. А. Козюхин, С. А. Бабич, А. В. Лазаренко, П. И. Варгунин, А. И.
Подробная информация
Индекс УДК 546.2
Интегральный изоконверсионный метод оценки параметров кристаллизации тонких пленок материалов фазовой памяти Ge[2]Sb[2]Te[5]
Текст
Неорганические материалы
2017
Т.53, № 1. - С.21-25