Поиск

Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/c-Si методом спектральной эллипсометрии

Авторы: Ермина, А. А. Большаков, В. О. Пригода, К. В. Толмачев, В. А. Грудинкин, С. А. Жарова, Ю. А.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер opsp24_to132_no7_ss779_ad1
Дата корректировки 13:56:25 26 декабря 2024 г.
Кодируемые данные 241205s2024||||RU|||||||||||#||||# rus0|
10. 61011/OS. 2024. 07. 58903. 6515-24
DOI
Системный контрольный номер RUMARS-opsp24_to132_no7_ss779_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 539.21:535
Индекс ББК 22.374
Таблицы для массовых библиотек
Ермина, А. А.
ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН
070
Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/c-Si методом спектральной эллипсометрии
А. А. Ермина, В. О. Большаков, К. В. Пригода [и др.]
Объем 1 файл (2, 26 Мб)
Текст
электронный
Примечание Загл. с титул. экрана
Библиография Библиогр.: с. 784-785 (32 назв.)
Аннотация Рассмотрен разупорядоченный массив самоорганизующихся полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/Si. Структуры получены с помощью простого, воспроизводимого и недорогого метода восстановления Ag из раствора на поверхности монокристаллического кремния c последующей термической обработкой в атмосфере O[2] при 350 C. Проведен анализ оптических свойств, полученных неразрушающим методом спектральной эллипсометрии. Предложена многослойная модель с параболическим градиентом Ag/воздух для приближения эффективной среды Бруггемана, которая позволила с высокой точностью (+/-5 nm) определить толщину слоя наночастиц Ag. Положения "объемного" и локализованного плазмонных резонансов определены с помощью модели Друде и осцилляторов Лоренца.
Примеч. о целев. назн. Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Физика
AR-MARS
Оптические свойства твердых тел
AR-MARS
Ключевые слова полусферические наночастицы
оптические свойства
спектральная эллипсометрия
кремний
поверхностный плазмонный резонанс
модель Друде
Друде модель
термическая обработка
Большаков, В. О.
ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН
070
Пригода, К. В.
ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН
070
Толмачев, В. А.
ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН
070
Грудинкин, С. А.
ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН
070
Жарова, Ю. А.
ФТИ им. А. Ф. Иоффе РАН
070
ISSN 2782-6694
Название источника Оптика и спектроскопия
Место и дата издания 2024
Прочая информация Т. 132, № 7. - С. 779-785
RU
19013582
20241205
RCR
RU
19013582
20241205
RU
AR-MARS
20241205
RCR
RU
AR-MARS
20241205
https://elibrary.ru/item.asp?id=72852903
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
opsp
2024
132
7
779
1
13761
Плазмоника
drc cu
uabc
html