| Индекс УДК | 539.21:535 |
|
Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/c-Si методом спектральной эллипсометрии А. А. Ермина, В. О. Большаков, К. В. Пригода [и др.] |
|
| Объем | 1 файл (2, 26 Мб) |
| Примечание | Загл. с титул. экрана |
| Аннотация | Рассмотрен разупорядоченный массив самоорганизующихся полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/Si. Структуры получены с помощью простого, воспроизводимого и недорогого метода восстановления Ag из раствора на поверхности монокристаллического кремния c последующей термической обработкой в атмосфере O[2] при 350 C. Проведен анализ оптических свойств, полученных неразрушающим методом спектральной эллипсометрии. Предложена многослойная модель с параболическим градиентом Ag/воздух для приближения эффективной среды Бруггемана, которая позволила с высокой точностью (+/-5 nm) определить толщину слоя наночастиц Ag. Положения "объемного" и локализованного плазмонных резонансов определены с помощью модели Друде и осцилляторов Лоренца. |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2024 |
| Прочая информация | Т. 132, № 7. - С. 779-785 |
|
https://elibrary.ru/item.asp?id=72852903 |
