Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/c-Si методом спектральной эллипсометрии
Ермина, А. А., Большаков, В. О., Пригода, К. В., Толмачев, В. А., Грудинкин, С. А., Жарова, Ю. А.
Анализ оптических свойств массива полусферических наночастиц Ag на поверхности SiO[2]/c-Si методом спектральной эллипсометрии, А. А. Ермина, В. О. Большаков, К. В. Пригода [и др.]
1 файл (2, 26 Мб) .-
Загл. с титул. экрана .-
// Оптика и спектроскопия .-
2024 .-
Т. 132, № 7. - С. 779-785 .-
