Поиск

Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок A-Ge[2]Sb[2]Te[5] методом XZ-сканирования

Авторы: Будаговский, И. А. Кузовков, Д. О. Лазаренко, П. И. Смаев, М. П.
Краткая информация
Маркер записи n 22 3 4500
Контрольный номер opsp24_to132_no1_ss27_ad1
Дата корректировки 8:38:52 30 сентября 2024 г.
Кодируемые данные 240902s2024||||RU|||||||||||#||||# rus0|
10. 61011/OS. 2024. 01. 57545. 7-24
DOI
Системный контрольный номер RUMARS-opsp24_to132_no1_ss27_ad1
AR-MARS
Служба первич. каталог. Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого
МАРС
Код языка каталог. rus
Код языка издания rus
rus
Индекс УДК 535.2/3
Индекс ББК 22.343
Таблицы для массовых библиотек
Будаговский, И. А.
Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН
070
Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок A-Ge[2]Sb[2]Te[5] методом XZ-сканирования
И. А. Будаговский, Д. О. Кузовков, П. И. Лазаренко, М. П. Смаев
Объем 1 файл (5, 68 Мб)
Текст
электронный
Примечание Загл. с титул. экрана
Статья, представленная на конференции "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023) "
Библиография Библиогр.: с. 33 (24 назв.)
Аннотация Рассмотрена светоиндуцированная модификация тонких халькогенидных пленок Ge[2]Sb[2]Te[5] с помощью фемтосекундного лазерного излучения в ближнем ИК диапазоне (1030 nm), реализуемая посредством двухкоординатного (XZ) сканирования. При смещении образца вдоль оси пучка изменялись параметры воздействующего излучения вследствие изменения размера облучаемой области, что обеспечивало последовательную смену характерных режимов модификации: от формирования периодических двухфазных поверхностных структур, кристаллизации, возникновения предабляционных структур до абляции. Продемонстрировано, что XZ-сканирование является удобным способом как для определения необходимых для модификации пленки параметров излучения, так и для определения геометрии пучка.
Примеч. о целев. назн. Доступ по паролю из сети Интернет (чтение)
Физика
AR-MARS
Физическая оптика
AR-MARS
Ключевые слова тонкие пленки
фемтосекундная модификация пленок
XZ-сканирование
лазерные модификации
фемтосекундные импульсы
аморфные халькогениды
оптическая микроскопия
лазерное излучение
Кузовков, Д. О.
Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН; Национальный исследовательский университет "МИЭТ"; ГК "Лазеры и аппаратура"
070
Лазаренко, П. И.
Национальный исследовательский университет "МИЭТ"
070
Смаев, М. П.
Физический институт им. П. Н. Лебедева РАН
070
"Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023) ", конференция
Москва
2023
Вторичная ответственность
ISSN 2782-6694
Название источника Оптика и спектроскопия
Место и дата издания 2024
Прочая информация Т. 132, № 1. - С. 27-33
RU
19013582
20240902
RCR
RU
19013582
20240902
RU
AR-MARS
20240903
RCR
RU
AR-MARS
20240903
https://elibrary.ru/item.asp?id=67211223
Тип документа b
code
year
to
no
ss
ad
opsp
2024
132
1
27
1
13761
Лазерная физика и лазерная оптика
drc cu
uabc
html