Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок A-Ge[2]Sb[2]Te[5] методом XZ-сканирования
Будаговский, И. А., Кузовков, Д. О., Лазаренко, П. И., Смаев, М. П.
Анализ фемтосекундной модификации тонких пленок A-Ge[2]Sb[2]Te[5] методом XZ-сканирования, И. А. Будаговский, Д. О. Кузовков, П. И. Лазаренко, М. П. Смаев
1 файл (5, 68 Мб) .-
Загл. с титул. экрана .-Статья, представленная на конференции "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023) " .-
// Оптика и спектроскопия .-
2024 .-
Т. 132, № 1. - С. 27-33 .-
