Поиск

Особенности электрохимического вольт-фарадного профилирования арсенид-галлиевых светоизлучающих и pHEMT-структур с квантово-размерными областями

Авторы: Яковлев, Г. Е. Дорохин, М. В. Зубков, В. И. Дудин, А. Л. Здоровейщев, А. В. Малышева, Е. И. Данилов, Ю. А. Звонков, Б. Н. Кудрин, А. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/689522773
Дата корректировки 14:30:44 6 ноября 2021 г.
10.21883/FTP.2018.08.46212.8708
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Яковлев, Г. Е.
Особенности электрохимического вольт-фарадного профилирования арсенид-галлиевых светоизлучающих и pHEMT-структур с квантово-размерными областями
Электронный ресурс
The features of electrochemical capacitance–voltage profiling of GaAs-based LED and pHEMT structures with quantum-confined regions
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 33 назв.
Аннотация Методом электрохимического вольт-фарадного профилирования исследованы квантово-размерные светоизлучающие и транзисторные гетероструктуры на основе GaAs, содержащие области дельта-легирования, квантовые ямы InGaAs/GaAs и приповерхностные слои квантовых точек InAs/GaAs. Получены профили распределения концентрации свободных носителей заряда по глубине структур, определены накопленные в квантовой яме и массиве квантовых точек заряды, а также степени легирования эмиттерного и дельта-слоев. Проведено моделирование зонной структуры и распределения концентрации носителей заряда по глубине образцов с различной геометрией квантовых ям. Проанализированы особенности электрохимического вольт-фарадного профилированияв гетероструктурах различного типа. Для эффективного разделения откликов от близко расположенных слоев, в частности квантовой ямы и дельта-слоя, предложен метод интеграции вольт-фарадных характеристик на каждом этапе травления.
Ключевые слова гетероструктуры
арсенид галлия
квантовые ямы
светоизлучающие структуры
pHEMT-структуры
транзисторные гетероструктуры
Дорохин, М. В.
Зубков, В. И.
Дудин, А. Л.
Здоровейщев, А. В.
Малышева, Е. И.
Данилов, Ю. А.
Звонков, Б. Н.
Кудрин, А. В.
Физика и техника полупроводников
2018
Т. 52, вып. 8. - С. 873-880
Имя макрообъекта Яковлев_особенности
Тип документа b