| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | opsp21_to129_vy1_ss33_ad1 |
| Дата корректировки | 11:36:15 29 июля 2021 г. |
| Кодируемые данные | 210128s2021||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
|
DOI 10. 21883/OS. 2021. 01. 50436. 213-20 |
|
| Системный контрольный номер | RUMARS-opsp21_to129_vy1_ss33_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Фундаментальная библиотека Санкт-Петербургского политехнического университета Петра Великого МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК | 535.2/.3 |
| Индекс ББК | 22.343 |
| Таблицы для массовых библиотек | |
|
Швец, В. А. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН; Новосибирский государственный университет 070 |
|
|
Исследование температурной зависимости спектров оптических постоянных пленок Hg[1-x]Cd[x]Te, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии В. А. Швец, Д. В. Марин, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | граф., табл. |
| Текст | |
| непосредственный | |
| Библиография | Библиогр.: с. 40 (23 назв.) |
| Аннотация | На основе проведeнных in situ и ex situ эллипсометрических измерений найдены спектральные зависимости температурной чувствительности оптических постоянных Hg[1-x]Cd[x]Te - dn (лямбда) и dk (лямбда) для серии образцов разного состава в диапазоне от 0. 160 до 0. 327. Эксперименты были проведены в процессе остывания выращенных образцов в вакуумной камере. Установлено, что полученные зависимости dn и dk хорошо аппроксимируются суммой трeх осцилляторов Лоренца с добавлением дисперсионных слагаемых формулы Коши. Предложена параметрическая модель, которая описывает чувствительности dn (лямбда) и dk (лямбда) для произвольного состава x в указанном диапазоне вблизи температуры роста. Проведенные ex situ температурные измерения вблизи комнатной температуры коррелируют с данными высокотемпературных измерений. Полученные результаты актуальны для разработки эллипсометрических методов контроля in situ процессов роста слоeв Hg[1-x]Cd[x]Te. |
|
Физика AR-MARS Физическая оптика AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
температурные зависимости оптические пленки молекулярно-лучевая эпитаксия кадмий ртуть теллур эллипсометрия спектры оптических констант температурная чувствительность оптические постоянные |
|
Марин, Д. В. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН 070 Якушев, М. В. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН 070 Рыхлицкий, С. В. Институт физики полупроводников им. А. В. Ржанова СО РАН 070 |
|
| ISSN | 0030-4034 |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2021 |
| Прочая информация | Т. 129, вып. 1. - С. 33-40 |
|
RU 19013582 20210128 RCR |
|
|
RU 19013582 20210128 |
|
|
RU AR-MARS 20210709 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20210709 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to vy ss ad |
|
|
opsp 2021 129 1 33 1 |
|
| 13761 | |
| Спектроскопия конденсированного состояния |
