| Индекс УДК | 535.2/.3 |
|
Исследование температурной зависимости спектров оптических постоянных пленок Hg[1-x]Cd[x]Te, выращенных методом молекулярно-лучевой эпитаксии В. А. Швец, Д. В. Марин, М. В. Якушев, С. В. Рыхлицкий |
|
| Аннотация | На основе проведeнных in situ и ex situ эллипсометрических измерений найдены спектральные зависимости температурной чувствительности оптических постоянных Hg[1-x]Cd[x]Te - dn (лямбда) и dk (лямбда) для серии образцов разного состава в диапазоне от 0. 160 до 0. 327. Эксперименты были проведены в процессе остывания выращенных образцов в вакуумной камере. Установлено, что полученные зависимости dn и dk хорошо аппроксимируются суммой трeх осцилляторов Лоренца с добавлением дисперсионных слагаемых формулы Коши. Предложена параметрическая модель, которая описывает чувствительности dn (лямбда) и dk (лямбда) для произвольного состава x в указанном диапазоне вблизи температуры роста. Проведенные ex situ температурные измерения вблизи комнатной температуры коррелируют с данными высокотемпературных измерений. Полученные результаты актуальны для разработки эллипсометрических методов контроля in situ процессов роста слоeв Hg[1-x]Cd[x]Te. |
| Название источника | Оптика и спектроскопия |
| Место и дата издания | 2021 |
| Прочая информация | Т. 129, вып. 1. - С. 33-40 |
