Поиск

Зарождение двумерных островков на Si(111) при высокотемпературном эпитаксиальном росте

Авторы: Ситников, С. В. Косолобов, С. С. Латышев, А. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/679058478
Дата корректировки 11:30:09 8 июля 2021 г.
10.21883/FTP.2017.02.44107.8332
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Ситников, С. В.
Зарождение двумерных островков на Si(111) при высокотемпературном эпитаксиальном росте
Электронный ресурс
2D islands nucleation on Si(111) during high temperature epitaxial growth
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил.
Библиография Библиогр.: 16 назв.
Аннотация Методом in situ сверхвысоковакуумной отражательной электронной микроскопии при высокотемпературном эпитаксиальном росте проведены исследования процесса зарождения двумерных островков на ультраплоской поверхности Si(111). В интервале температур 900-1180°C экспериментально измерен критический размер (D[crit]) террасы, при достижении которого в центре зарождается двумерный островок, при различных потоках кремния на поверхность. Установлено, что кинетика зародышеобразования определяется диффузией адсорбированных атомов кремния вплоть до температуры 1180°C, а минимальный критический размер зародыша соответствует 12 атомам кремния.
Ключевые слова двумерные островки
молекулярно-лучевая эпитаксия
двумерно-островковый механизм роста
кремний
Косолобов, С. С.
Латышев, А. В.
Физика и техника полупроводников
2017
Т. 51, вып. 2. - С. 212-215
Имя макрообъекта Ситников_зарождение
Тип документа b