Поиск

Скорость захвата электронов в зависимости от глубины квантовой ямы в полупроводниковых лазерах

Авторы: Соколова, З. Н. Бахвалов, К. В. Лютецкий, А. В. Пихтин, Н. А. Тарасов, И. С. Асрян, Л. В.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/670943883
Дата корректировки 13:26:14 5 апреля 2021 г.
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Соколова, З. Н.
Скорость захвата электронов в зависимости от глубины квантовой ямы в полупроводниковых лазерах
Электронный ресурс
Electron capture velocity versus quantum well depth in semiconductor lasers
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 14 назв.
Аннотация Методом МОС-гидридной эпитаксии выращены три лазерные структуры с одиночной напряженной квантовой ямой из InGaAs и волноводной областью из GaAs или Al[0.1]Ga[0.9]As. В этих структурах, имеющих различную глубину квантовой ямы, были измерены плотность порогового тока и внутренняя дифференциальная квантовая эффективность. С использованием экспериментальных значений этих величин была вычислена скорость захвата электронов в квантовую яму в каждой из трех структур. Получено, что скорость захвата в глубокие ямы существенно меньше, чем в мелкие.
Ключевые слова полупроводниковые лазеры
квантовые ямы
МОС-гидридная эпитаксия
лазерные структуры
арсенид галлия
арсенид галлия-индия
Бахвалов, К. В.
Лютецкий, А. В.
Пихтин, Н. А.
Тарасов, И. С.
Асрян, Л. В.
Название источника Физика и техника полупроводников
Место и дата издания 2016
Прочая информация Т. 50, вып. 5. - С. 679-682
Имя макрообъекта Соколова_скорость
Тип документа b