Поиск

Особенности легирования сурьмой в процессе ионно-лучевой кристаллизации кремния

Авторы: Пащенко, А. С. Чеботарёв, С. Н. Чеботарев, С. Н. Лунин, Л. С. Ирха, В. А.
Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/670607988
Дата корректировки 16:09:00 1 апреля 2021 г.
Служба первич. каталог. Шавель
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Код языка издания rus
Индекс УДК 621.315.592
Пащенко, А. С.
Особенности легирования сурьмой в процессе ионно-лучевой кристаллизации кремния
Электронный ресурс
Features the doping antimony during the ion-beam crystallization of silicon
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил., табл.
Библиография Библиогр.: 28 назв.
Аннотация Предложен способ легирования в процессе роста тонких пленок ионно-лучевой кристаллизацией. На примере Si и Sb показана возможность управляемого легирования полупроводников в процессе ионно-лучевой кристаллизации. Получена калибровочная температурная зависимость скорости потока паров сурьмы в диапазоне 150-400°C. Установлено, что повышение температуры испарителя больше 200°C приводит к накоплению примеси в направлении роста слоя. Выращены слои кремния, легированные сурьмой до концентрации 10{18} см{-3}. Показано, что эффективность активации сурьмы в кремнии с увеличением температуры испарителя нелинейно уменьшается с ~ 10{0} до ~ 10{-3}.
Чеботарёв, С. Н.
Ключевые слова легирование
ионно-лучевая кристаллизация
кремний
полупроводники
полупроводниковые материалы
Чеботарев, С. Н.
Лунин, Л. С.
Ирха, В. А.
Физика и техника полупроводников
2016
Т. 50, вып. 4. - С. 553-556
Имя макрообъекта Пащенко_особенности
Тип документа b