| Маркер записи | n 22 3 4500 |
| Контрольный номер | zhps20_to87_no3_ss462_ad1 |
| Дата корректировки | 13:05:47 30 марта 2021 г. |
| Кодируемые данные | 210303s2020||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
| Системный контрольный номер | RUMARS-zhps20_to87_no3_ss462_ad1 |
| AR-MARS | |
| Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
| Код языка каталог. | rus |
| Код языка издания |
rus rus |
| Индекс УДК |
535.33 539.2 |
| Индекс ББК |
22.344 22.37 |
|
Таблицы для массовых библиотек Таблицы для массовых библиотек |
|
|
Зарецкая, Е. П. 070 |
|
|
Фазовый состав, микроструктура и оптические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3] Е. П. Зарецкая, В. Ф. Гременок, В. А. Иванов [и др.] |
|
| Текст | |
| непосредственный | |
| Библиография | Библиогр.: с. 468 (28 назв. ) |
| Аннотация | Тонкие пленки Cu[2]SnS[3] (CTS) получены путем осаждения слоев Sn/Cu методом ВЧ распыления с последующим отжигом в атмосфере Ar/S с источниками S и Sn. По данным рентгеноструктурного анализа и спектроскопии комбинационного рассеяния света показано, что однофазные CTS-пленки моноклинной структуры со следами фазы Cu[x]S формируются при температуре 520 °C. Методом сканирующей электронной микроскопии выявлена компактная и однородная микроструктура поликристаллических CTS-слоев. В спектрах фотолюминесценции пленок CTS моноклинной модификации проявляется одна широкая полоса в диапазоне энергий 0. 7-1. 0 эВ, обусловленная оптическими переходами электронов из зоны проводимости на глубокие энергетические уровни дефектов акцепторного типа. |
|
Физика AR-MARS Спектроскопия AR-MARS Физика твердого тела. Кристаллография в целом AR-MARS |
|
| Ключевые слова |
кристаллические структуры однофазные CTS-пленки моноклинной структуры поликристаллические CTS-слои солнечные элементы спектроскопия комбинационного рассеяния света тонкие пленки фотолюминесценция пленок |
|
Гременок, В. Ф. 070 Иванов, В. А. 070 Станчик, А. В. 070 Бородавченко, О. М. 070 Жигулин, Д. В. 070 Осчелик, С. 070 Акчай, Н. 070 |
|
| ISSN | 0514-7506 |
| Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
| Место и дата издания | 2020 |
| Прочая информация | Т. 87, № 3. - С. 462-468 |
|
RU 43013090 20210303 RCR |
|
|
RU 43013090 20210303 |
|
|
RU AR-MARS 20210303 RCR |
|
|
RU AR-MARS 20210303 |
|
| Тип документа | b |
|
code year to no ss ad |
|
|
zhps 2020 87 3 462 1 |
|
| 718 |
