-
Микроструктура и комбинационное рассеяние света тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4], осажденных на гибкие металлические подложки
Станчик, А. В., Гременок, В. Ф., Башкиров, С. А., Тиванов, М. С., Юшкенас, Р. Л., Новиков, Г. Ф., Герайтис, Р., Саад, A.M.
Микроструктура и комбинационное рассеяние света тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4], осажденных на гибкие металлические подложки, [Электронный ресурс]
ил., табл.
Физика и техника полупроводников, 2018, Т. 52, вып. 2. - С. 227-232
Станчик_микроструктура
-
Синтез, фазовый состав и кинетика затухания фотопроводимости поликристаллов твердых растворов Cu[2]ZnSn(S[х]Se[1 - х])[4]
Гременок, В. Ф., Гуртовой, В. Г., Станчик, А. В., Шелковая, Т. В., Чумак, В. А., Рабенок, Е. В., Ракитин, В. В., Голованов, Б. И., Новиков, Г. Ф.
Синтез, фазовый состав и кинетика затухания фотопроводимости поликристаллов твердых растворов Cu[2]ZnSn(S[х]Se[1 - х])[4], В. Ф. Гременок, В. Г. Гуртовой, А. В. Станчик [и др.]
4 рис., 1 табл.
// Неорганические материалы .-
2020 .-
Т. 56, № 10. - С. 1054-1059 .-
-
Исследование структурных и оптических свойств тонких пленок CdS в зависимости от времени химического осаждения
Гременок, В. Ф., Зарецкая, Е. П., Станчик, А. В., Бускис, К. П., Пашаян, С. Т., Toкмаджян, А. С., Мусаелян, А. С., Петросян, С. Г.
Исследование структурных и оптических свойств тонких пленок CdS в зависимости от времени химического осаждения, В. Ф. Гременок, Е. П. Зарецкая, А. В. Станчик [и др.]
1 файл (223 Кб) .-
Загл. с титул. экрана .-
// Оптика и спектроскопия .-
2024 .-
Т. 132, № 2. - С. 161-168 .-
-
Фазовый состав, микроструктура и оптические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3]
Зарецкая, Е. П., Гременок, В. Ф., Иванов, В. А., Станчик, А. В., Бородавченко, О. М., Жигулин, Д. В., Осчелик, С., Акчай, Н.
Фазовый состав, микроструктура и оптические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3], Е. П. Зарецкая, В. Ф. Гременок, В. А. Иванов [и др.]
// Журнал прикладной спектроскопии .-
2020 .-
Т. 87, № 3. - С. 462-468 .-
-
Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии
Станчик, А. В., Барайшук, С. М., Башкиров, С. А., Гременок, В. Ф., Тиванов, М. С., Дергачева, М. Б., Уразов, К. А.
Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии, [Текст]
ил., табл.
Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук, 2016, № 4. - С. 67-75
