Поиск

Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии

Авторы: Станчик, А. В. Барайшук, С. М. Башкиров, С. А. Гременок, В. Ф. Тиванов, М. С. Дергачева, М. Б. Уразов, К. А.
Подробная информация
Индекс УДК 544.022:546.03:546.04
Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии
Текст
Другие авторы Барайшук, С. М.
Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук
2016
№ 4. - С. 67-75