Индекс УДК | 544.022:546.03:546.04 |
Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии Текст |
|
Другие авторы | Барайшук, С. М. |
Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук 2016 № 4. - С. 67-75 |