| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/536755334 |
| Дата корректировки | 10:42:14 3 января 2017 г. |
| Служба первич. каталог. | Боровик |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 544.022:546.03:546.04 |
| Станчик, А. В. | |
|
Исследование тонких пленок Cu[2]ZnSnSe[4] методом атомно-силовой микроскопии Текст |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Библиография | Библиогр.: 34 назв. |
|
тонкие пленки атомно-силовая микроскопия прекурсоры электрохимическое осаждение гибкие подложки |
|
| Другие авторы | Барайшук, С. М. |
|
Башкиров, С. А. Гременок, В. Ф. Тиванов, М. С. Дергачева, М. Б. Уразов, К. А. |
|
|
Весці Нацыянальнай акадэміі навук Беларусі. Серыя фізіка-матэматычных навук 2016 № 4. - С. 67-75 |
|
| Тип документа | b |
