Индекс УДК |
535.33 539.2 |
Фазовый состав, микроструктура и оптические свойства тонких пленок Cu[2]SnS[3] Е. П. Зарецкая, В. Ф. Гременок, В. А. Иванов [и др.] |
|
Аннотация | Тонкие пленки Cu[2]SnS[3] (CTS) получены путем осаждения слоев Sn/Cu методом ВЧ распыления с последующим отжигом в атмосфере Ar/S с источниками S и Sn. По данным рентгеноструктурного анализа и спектроскопии комбинационного рассеяния света показано, что однофазные CTS-пленки моноклинной структуры со следами фазы Cu[x]S формируются при температуре 520 °C. Методом сканирующей электронной микроскопии выявлена компактная и однородная микроструктура поликристаллических CTS-слоев. В спектрах фотолюминесценции пленок CTS моноклинной модификации проявляется одна широкая полоса в диапазоне энергий 0. 7-1. 0 эВ, обусловленная оптическими переходами электронов из зоны проводимости на глубокие энергетические уровни дефектов акцепторного типа. |
Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
Место и дата издания | 2020 |
Прочая информация | Т. 87, № 3. - С. 462-468 |