Маркер записи | n 22 3 4500 |
Контрольный номер | zhps18_to85_no1_ss100_ad1 |
Дата корректировки | 11:52:53 27 апреля 2018 г. |
Кодируемые данные | 180416s2018||||RU|||||||||||#||||# rus0| |
Системный контрольный номер | RUMARS-zhps18_to85_no1_ss100_ad1 |
AR-MARS | |
Служба первич. каталог. |
Научная библиотека им. М. М. Бахтина Мордовского госуниверситета им. Н. П. Огарева МАРС |
Код языка каталог. | rus |
Код языка издания |
rus rus |
Индекс УДК |
539.19 543.4/.5 |
Индекс ББК |
22.36 24.46/48 |
Таблицы для массовых библиотек Таблицы для массовых библиотек |
|
Машин, Н. И. 070 |
|
Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных Ti/V-систем [Текст] Н. И. Машин [и др.] |
|
Библиография | Библиогр.: с. 107 (25 назв. ) |
Аннотация | Предложен новый способ определения толщины слоев при рентгенофлуоресцентном анализе двухслойных систем Ti/V с использованием простых в изготовлении унифицированных пленочных слоев, получаемых напылением титана на подложку из пленки полимера. Рассчитаны поправочные коэффициенты, учитывающие уровень ослабления интенсивности первичного излучения рентгеновской трубки и аналитической линии элемента нижнего слоя в верхнем слое и усиления интенсивности флуоресценции верхнего слоя излучением атомов нижнего. |
Физика AR-MARS Молекулярная физика в целом AR-MARS Химия AR-MARS Физико-химические методы анализа AR-MARS |
|
Ключевые слова |
массовый коэффициент поглощения межэлементное влияние пленочные полимеры поверхностная плотность пленок рентгенофлуоресцентный анализ тонкая двухслойная пленка флуоресценция верхнего слоя |
Разуваев, А. Г. 070 Черняева, Е. А. 070 Гафарова, Л. М. 070 Ершов, А. В. 070 |
|
ISSN | 0514-7506 |
Название источника | Журнал прикладной спектроскопии |
Место и дата издания | 2018 |
Прочая информация | Т. 85, № 1. - С. 100-107 |
RU 43013090 20180416 RCR |
|
RU 43013090 20180416 |
|
RU AR-MARS 20180416 RCR |
|
RU AR-MARS 20180416 |
|
Тип документа | b |
code year to no ss ad |
|
zhps 2018 85 1 100 1 |
|
718 |