Каталог библиотеки БГТУ

1. Базы данных
2. Статьи
3. Автор
4. Черняева, Е. А.

Статьи. Автор - Черняева, Е. А.

• Влияние вида и концентрации обменных ионов на состояние систем сшитый органический полиэлектролит-вода
  Крылов, Е. А., Машин, Н. И., Сироткин, Н. И., Туманов, А. А., Черняева, Е. А.
  
  Влияние вида и концентрации обменных ионов на состояние систем сшитый органический полиэлектролит-вода, [Текст] ил., табл. Высокомолекулярные соединения. Сер. А, Физика полимеров, 2015, Т. 57, № 4. - С. 287-294
• Рентгенофлуоресцентное определение поверхностной плотности тонких пленок хрома и железа по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Рентгенофлуоресцентное определение поверхностной плотности тонких пленок хрома и железа по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами, [Текст] ил., табл. Журнал аналитической химии, 2016, Т. 71, № 6. - С. 597-601
• Определение массового коэффициента поглощения в двухслойной тонкопленочной системе Cr/Co рентгенофлуоресцентным методом
  Черняева, Е. А., Князева, А. А., Зимина, Е. О., Белякова, И. С., Машин, Н. И.
  
  Определение массового коэффициента поглощения в двухслойной тонкопленочной системе Cr/Co рентгенофлуоресцентным методом, Черняева Е. А., Князева А. А., Зимина Е. О. [и др.] // Журнал прикладной спектроскопии .- 2019 .- Т. 86, № 6. - С. 936-941 .-
• Определение рентгенофлуоресцентным методом поверхностной плотности нанослоев хрома
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Определение рентгенофлуоресцентным методом поверхностной плотности нанослоев хрома , [Текст] Журнал прикладной спектроскопии, 2013, Т. 80, № 6. - С. 941-945
• Влияние материала подложки на интенсивность флуоресценции K{L}-линии тонких пленок хрома
  Машин, Н. И, Бачерикова, И. А., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Влияние материала подложки на интенсивность флуоресценции K{L}-линии тонких пленок хрома, [Текст] ил. Журнал прикладной спектроскопии, 2012, Т. 79, № 6. - С. 857-861
• Определение поверхностной плотности тонких пленок марганца по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Определение поверхностной плотности тонких пленок марганца по образцам сравнения элементов с близкими атомными номерами, [Текст] ил., табл. Журнал прикладной спектроскопии, 2015, № 1. - С. 76-80
• Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных Ni/Ge-систем
  Машин, Н. И., Разуваев, А. Г., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Ершов, А. А.
  
  Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных Ni/Ge-систем, [Текст] Журнал прикладной спектроскопии, 2013, Т. 80, № 1. - С. 5-11
• Определение массового коэфициента поглощения в двухслойных тонкопленочных системах Ti/V и V/Ti рентгенофлуоресцентным методом
  Машин, Н. И., Черняева, Е. А., Туманова, А. Н., Гафарова, Л. М.
  
  Определение массового коэфициента поглощения в двухслойных тонкопленочных системах Ti/V и V/Ti рентгенофлуоресцентным методом, [Текст] ил., табл. Журнал прикладной спектроскопии, 2016, Т. 83, № 1. - С. 65-68
• Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных Ti/V-систем
  Машин, Н. И., Разуваев, А. Г., Черняева, Е. А., Гафарова, Л. М., Ершов, А. В.
  
  Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных Ti/V-систем, [[Текст]], Н. И. Машин [и др.] // Журнал прикладной спектроскопии .- 2018 .- Т. 85, № 1. - С. 100-107 .-
• Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных систем V - Cr
  Машин, И. И., Разуваев, А. Г., Черняева, Е. А., Зимина, Е. О., Ершов, А. В.
  
  Учет взаимного влияния элементов при рентгенофлуоресцентном анализе тонких двухслойных систем V - Cr, И. И. Машин, А. Г. Разуваев, Е. А. Черняева [и др.] 3 рис., 2 табл. // Журнал аналитической химии .- 2020 .- Т. 75, № 2. - С. 123-131 .-