-
Исследование эффективности применения аксиально-симметричных отражательных рентгенооптических элементов из стекла на лабораторных источниках
Якимчук, И. В., Бузмаков, А. В., Асадчиков, В. Е., Скибина, Ю. С., Скибина, Н. Б., Белоглазов, В. И.
Исследование эффективности применения аксиально-симметричных отражательных рентгенооптических элементов из стекла на лабораторных источниках, [Текст]
ил.
Заводская лаборатория. Диагностика материалов, 2011, Т. 77, № 6. - С. 26-32
-
Микроскопия второй гармоники из приповерхностной плазмы, зажигаемой остросфокусированным пучком фемтосекундного волоконного лазера
Гарматина, А. А., Мареев, Е. И., Коршунов, А. А., Можаева, М. Д., Минаев, Н. В., Муслимов, А. Э., Хмеленин, Д. Н., Асадчиков, В. Е., Гордиенко, В. М.
Микроскопия второй гармоники из приповерхностной плазмы, зажигаемой остросфокусированным пучком фемтосекундного волоконного лазера, А. А. Гарматина, Е. И. Мареев, А. А. Коршунов [и др.]
1 файл (546 Кб) .-
Загл. с титул. экрана .-Статья, представленная на конференции "Сверхбыстрые оптические явления (UltrafastLight-2023) " .-
// Оптика и спектроскопия .-
2024 .-
Т. 132, № 1. - С. 34-41 .-
-
Об изменении реальной структуры кристаллов кремния, имплантированных ионами водорода, при их отжиге по данным трехкристальной рентгеновской дифрактометрии
Асадчиков, В. Е., Дьячкова, И. Г., Золотов, Д. А., Чуховский, Ф. Н., Сорокин, Л. М.
Об изменении реальной структуры кристаллов кремния, имплантированных ионами водорода, при их отжиге по данным трехкристальной рентгеновской дифрактометрии, [Электронный ресурс]
ил.
// Физика твердого тела .-
2019 .-
Т. 61. вып. 8. - С. 1437-1442 .-
Асадчиков_об изменении
-
Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н{+}-ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопии
Асадчиков, В. Е., Дьячкова, И. Г., Золотов, Д. А., Чуховский, Ф. Н., Сорокин, Л. М.
Изучение микроструктуры кристаллов Si, подвергнутых облучению быстрыми Н{+}-ионами и термообработке, методами высокоразрешающей трехкристальной рентгеновской дифрактометрии и электронной просвечивающей микроскопии, [Электронный ресурс]
ил.
// Физика твердого тела .-
2019 .-
Т. 61, вып. 10. - С. 1754-1762 .-
Асадчиков_изучение
-
Коррекция характеристик кремниевых фотодиодов путем применения ионной имплантации
Асадчиков, В. Е., Дьячкова, И. Г., Золотов, Д. А., Чуховский, Ф. Н., Никитина, Е. В.
Коррекция характеристик кремниевых фотодиодов путем применения ионной имплантации, [Электронный ресурс]
ил.
Физика и техника полупроводников, 2020, Т. 54, вып. 6. - С. 557-563
Асадчиков_коррекция
