-
Очистка селена от примесей бария вакуумной дистилляцией
Ширяев, В. С., Пименова, В. Г., Липатова, М. М., Евдокимов, И. И., Чурбанов, М. Ф., Кириллов, Ю. П., Корноухов, В. Н.
Очистка селена от примесей бария вакуумной дистилляцией, [Текст]
Неорганические материалы, 2010, Т.46, № 3.- С. 365-369
-
Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As-Se и As-S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Евдокимов, И. И., Пименов, В. Г., Фадеева, Д. А.
Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As-Se и As-S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой, [[Текст]], И. И. Евдокимов, В. Г. Пименов, Д. А. Фадеева
7 табл., 6 рис.
// Журнал аналитической химии .-
2018 .-
Т. 73, № 4. - С. 253-263 .-
-
Глубокая очистка моноизотопной серы {32}S и {34}S
Суханов, М. В., Сторожева, Т. И., Евдокимов, И. И., Пименов, В. Г., Созин, А. Ю., Котерева, Т. В.
Глубокая очистка моноизотопной серы {32}S и {34}S, [[Текст]], М. В. Суханов [и др.]
3 табл., 3 рис.
// Неорганические материалы .-
2017 .-
Т. 53, № 2. - С. 126-131 .-
-
Определение матричного состава стекол системы Ga-Ge-Te-I методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой
Евдокимов, И. И., Курганова, А. Е., Вельмужов, А. П.
Определение матричного состава стекол системы Ga-Ge-Te-I методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой, И. И. Евдокимов, А. Е. Курганова, А. П. Вельмужов
// Журнал аналитической химии .-
2023 .-
Т. 78, № 5. - С. 461-468 .-
