| Индекс УДК | 543.4 |
|
Возможности определения матричных элементов высокочистых стекол систем As-Se и As-S методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой [Текст] И. И. Евдокимов, В. Г. Пименов, Д. А. Фадеева |
|
| Аннотация | Оценены возможности атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой как альтернативы рентгеноспектральному анализу при определении матричных элементов стекол систем As-Se и As-S. |
| Название источника | Журнал аналитической химии |
| Место и дата издания | 2018 |
| Прочая информация | Т. 73, № 4. - С. 253-263 |
