| Индекс УДК | 543.4/.5 |
|
Определение матричного состава стекол системы Ga-Ge-Te-I методом атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой И. И. Евдокимов, А. Е. Курганова, А. П. Вельмужов |
|
| Аннотация | Разработана методика высокоточного определения матричных элементов высокочистых стекол системы Ga-Ge-Te-I с использованием атомно-эмиссионной спектрометрии с индуктивно связанной плазмой. |
| Название источника | Журнал аналитической химии |
| Место и дата издания | 2023 |
| Прочая информация | Т. 78, № 5. - С. 461-468 |
