| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/611768686 |
| Дата корректировки | 10:56:24 26 апреля 2025 г. |
| Служба первич. каталог. |
BY-HM0026 БГТУ БГТУ |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания |
rus eng |
| Индекс УДК | 537.533.35:539.2 |
|
Стукалов, О. М. О. М. Стукалов |
|
|
Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов Текст |
|
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил. |
| Библиография | Библиогр.: 6 назв. |
|
композиционные материалы молекулярные материалы пленки полимерные полимерные пленки сканирующая зондовая микроскопия поверхность материалов химический состав поверхности локальный анализ |
|
| Другие авторы | Почтенный, Артем Евгеньевич |
| Полное имя | А. Е. Почтенный |
|
Миронов, В. Л. В. Л. Миронов Грибков, Б. А. Б. А. Грибков Гапонов, С. В. С. В. Гапонов |
|
|
Институт физики твердого тела и полупроводников НАН Беларуси Белорусский государственный технологический университет Кафедра физики Институт физики микроструктур РАН |
|
|
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г. Минск: Издат. центр БГУ, 2002 С. 73-79 |
|
| Тип документа | b |
