-
Влияние толщины, состава, температуры и среды отжига на морфологию тонких сенсорных пленкок на основе фталоцианина меди
Стукалов, О. М., Мисевич, Алексей Васильевич, Почтенный, Артем Евгеньевич
Влияние толщины, состава, температуры и среды отжига на морфологию тонких сенсорных пленкок на основе фталоцианина меди, [Текст]
ил., табл.
4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Гомель, 24-25 октября 2000 г., Гомель : ИММС НАН Беларуси, С. 69-74
-
Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди-полистирол
Стукалов, О. М., Мисевич, Алексей Васильевич, Почтенный, Артем Евгеньевич, Галлямов, М. О., Яминский, И. В.
Атомно-силовая микроскопия тонких сенсорных пленок композита фталоцианин меди-полистирол, [Текст]
ил.
Поверхность. Рентгеновские, синхронные и нейтронные исследования, 2000, № 11. - С. 94-96
-
Фотоиндуцированные локальные туннельные токи в тонких сенсорных пленках на основе фталоцианина меди
Почтенный, Артем Евгеньевич, Стукалов, О. М., Бирюков, А. Г., Гапонов, С. В., Миронов, В. Л., Волгунов, Д. Г.
Фотоиндуцированные локальные туннельные токи в тонких сенсорных пленках на основе фталоцианина меди, [Текст]
ил.
4-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Гомель, 24-25 октября 2000 г., Гомель : ИММС НАН Беларуси, С. 54-59
-
Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент
Почтенный, Артем Евгеньевич, Стукалов, О. М., Ильюшонок, Ирина Петровна
Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент, [Текст]
ил.
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г., Минск: Издат. центр БГУ, 2002, С. 69-72
-
Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов
Стукалов, О. М., Почтенный, Артем Евгеньевич, Миронов, В. Л., Грибков, Б. А., Гапонов, С. В.
Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов, [Текст]
ил.
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г., Минск: Издат. центр БГУ, 2002, С. 73-79
-
Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок N,N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты
Лаппо, А. Н., Мисевич, Алексей Васильевич, Почтенный, Артем Евгеньевич, Стукалов, О. М., Жавнерко, Г. К.
Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок N,N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты, [Текст]
ил.
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г., Минск: Издат. центр БГУ, 2002, С. 103-108
-
Тонкопленочная реакция между BaFe204 и (0001) a-Fe2О3
Паньков, В. В., Стукалов, О. М., Куницкий, Л. И., Смоленчук, С. В.
Тонкопленочная реакция между BaFe204 и (0001) a-Fe2О3
ил.
Труды Белорусского государственного технологического университета. Серия 3. Химия и технология неорганических веществ , 2001, Вып. 9. - С. 24-27
-
Структура и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок N,N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты
Лаппо, А. Н., Мисевич, А. В., Почтенный, А. Е., Стукалов, О. М.
Структура и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок N,N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты
ил.
Труды Белорусского государственного технологического университета. Серия 6. Физико-математические науки и информатика, 2002, Вып. 10. - С. 85-90
-
Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напылённых плёнок диангидрида перилентетракарбоновой кислоты
Лаппо, А. Н., Мисевич, А. В., Почтенный, А. Е., Стукалов, О. М.
Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напылённых плёнок диангидрида перилентетракарбоновой кислоты
Рис.4
Труды Белорусского государственного технологического университета. Серия 6. Физико-математические науки и информатика, 2003, Вып. XI. - С. 124-127
