| Индекс УДК | 537.533.35:539.2 |
|
Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов Текст |
|
| Другие авторы | Почтенный, Артем Евгеньевич |
|
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г. Минск: Издат. центр БГУ, 2002 С. 73-79 |
