Поиск

Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий

Авторы: Горлов, Митрофан Иванович Емельянов, Виктор Андреевич Ануфриев, Дмитрий Леонидович
Заказ Местонахождение Краткая информация
Маркер записи n 22 7 4500
Контрольный номер RU/IS/BASE/234891478
Дата корректировки 14:30:20 13 января 2025 г.
985-08-0695-8
8000-00
Код языка каталог. rus
Код языка текста rus
621.382.2
621.3
Г69
Горлов, Митрофан Иванович
Горлов, М. И.
Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий
[монография]
Текст
Минск
Белорусская наука
2006
367 с.
На основе зарубежной и отечественной литературы рассмотрен вопрос отбраковки потенциально ненадежных полупроводниковых изделий различными методами.
диагностика полупроводниковых изделий
контроль качества полупроводниковых изделий
методы диагностики
методы отбраковки
ненадежные полупроводниковые изделия
отбраковка полупроводниковых изделий
отбраковочные испытания
полупроводниковые изделия
Емельянов, Виктор Андреевич
Емельянов, В. А.
Ануфриев, Дмитрий Леонидович
Ануфриев, Д. Л.
Тип документа m