Каталог библиотеки БГТУ
Сайт библиотеки БГТУ
Сайт БГТУ
Электронная библиотека БГТУ
Базы данных
Книги
Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий
Поиск
Все словари
Авторы
Гриф литературы для ВШ
Дата издания
Заглавие
Издательство
Ключевые слова
Организация
Искать
Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий
Авторы:
Горлов, Митрофан Иванович
Емельянов, Виктор Андреевич
Ануфриев, Дмитрий Леонидович
Заказ
Местонахождение
Подробная информация
Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий
[монография]
Текст
Минск
Белорусская наука
2006
367 с.