Поиск

Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий

Авторы: Горлов, Митрофан Иванович Емельянов, Виктор Андреевич Ануфриев, Дмитрий Леонидович
Заказ Местонахождение Подробная информация
Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий
[монография]
Текст
Минск
Белорусская наука
2006
367 с.