Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий
Горлов, Митрофан Иванович, Емельянов, Виктор Андреевич, Ануфриев, Дмитрий Леонидович
Технологические отбраковочные и диагностические испытания полупроводниковых изделий, [монография], Текст
Минск, Белорусская наука, 2006
367 с.
