Поиск

Разработка методики определения зонных диаграмм наноструктур КРТ с учетом зависимости электронного сродства от состава для целей оптоэлектроники

Авторы: Горн, Д. И. Несмелов, С. Н.
Местонахождение Краткая информация
Маркер записи n
Контрольный номер RU/IS/BASE/611157404
Дата корректировки 13:56:44 14 мая 2019 г.
Код языка каталог. rus
Правила каталог. PSBO
Служба первич. каталог. Данильченко
Код языка издания rus
Индекс УДК 681.782.473-022.532
Автор Горн, Д. И.
Разработка методики определения зонных диаграмм наноструктур КРТ с учетом зависимости электронного сродства от состава для целей оптоэлектроники
Текст
Место издания Москва
Издательство [РОСНАНО]
Дата издания 2008
Иллюстрации/ тип воспроизводства ил
Библиография Библиогр.: 6 назв
Ключевые слова диаграммы зонные
наноструктуры
КРТ
оптоэлектроника
узкозонные полупроводниковые твердые растворы
Другие авторы Несмелов, С. Н.
Организация/ юрисдикция Томский государственный университет
Rusnanotech'08
Москва : [РОСНАНО], 2008
С.12-14
RU/IS/BASE/605185555
Тип документа b