| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/611157404 |
| Дата корректировки | 15:29:26 16 апреля 2025 г. |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Служба первич. каталог. | BY-HM0026 |
| Код языка издания | rus |
| Каталогизатор |
Данильченко Вахрушева |
| Индекс УДК | 681.782.473-022.532 |
| Автор | Горн, Д. И. |
|
Разработка методики определения зонных диаграмм наноструктур КРТ с учетом зависимости электронного сродства от состава для целей оптоэлектроники Текст |
|
| Место издания | Москва |
| Издательство | [РОСНАНО] |
| Дата издания оригинала | 2008 |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил |
| Библиография | Библиогр.: 6 назв |
| Ключевые слова | диаграммы зонные |
|
наноструктуры КРТ оптоэлектроника узкозонные полупроводниковые твердые растворы |
|
| Другие авторы | Несмелов, С. Н. |
| Организация/ юрисдикция | Томский государственный университет |
|
Rusnanotech'08 Москва : [РОСНАНО], 2008 С.12-14 RU/IS/BASE/605185555 |
|
| Тип документа | b |
