Индекс УДК | 681.782.473-022.532 |
Автор | Горн, Д. И. |
Разработка методики определения зонных диаграмм наноструктур КРТ с учетом зависимости электронного сродства от состава для целей оптоэлектроники Текст |
|
Место издания | Москва |
Издательство | [РОСНАНО] |
Дата издания оригинала | 2008 |
Ключевые слова | диаграммы зонные |
Другие авторы | Несмелов, С. Н. |
Rusnanotech'08 Москва : [РОСНАНО], 2008 С.12-14 RU/IS/BASE/605185555 |