Разработка методики определения зонных диаграмм наноструктур КРТ с учетом зависимости электронного сродства от состава для целей оптоэлектроники
Горн, Д. И., Несмелов, С. Н.
Разработка методики определения зонных диаграмм наноструктур КРТ с учетом зависимости электронного сродства от состава для целей оптоэлектроники, [Текст]
Москва :
[РОСНАНО] ,
2008 .-
ил
Rusnanotech'08, Москва : [РОСНАНО], 2008, С.12-14, RU/IS/BASE/605185555
