| Маркер записи | n |
| Контрольный номер | RU/IS/BASE/543663593 |
| Дата корректировки | 9:40:40 27 марта 2017 г. |
| Вид содержания и средства доступа | 1-84 |
| Служба первич. каталог. |
Лапко БГТУ |
| Код языка каталог. | rus |
| Правила каталог. | PSBO |
| Код языка издания | rus |
| Индекс УДК | 621.382.019.3 |
| Полочн. индекс | 621.3 |
| Авторский знак | О-22 |
| Пек, Д. | |
| Заглавие | Обеспечение надежности полупроводниковых устройств |
| Физич. носитель | Текст |
| Продолж. заглавия | пер. с англ. |
| Ответственность | под общ. ред. А. С. Савиной |
| Semiconductor reliability | |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Мир |
| Дата издания оригинала | 1964 |
| Объем | 464 с. |
| Иллюстрации/ тип воспроизводства | ил., табл. |
| Аннотация | Книга посвящается проблеме обеспечения надежности полупроводниковых устройств. |
|
полупроводниковые устройства надежность полупроводниковых устройств методы повышения надежности средства повышения надежности методы выборочного контроля |
|
|
Прокассини, А. Джонс, Л. Адамс, Дж. Перри, Дж. Паккард, Ч. Фокс, А. Девис, Д. Бевингтон, Дж. Симмонс, К. Поттер, Ф. Кронлейдж, В. Эмбри, М. Тишендорф, Дж. Той, Ч. Блейкмор, Дж. Уест, В. Эриксон, В. |
|
| Тип документа | m |
