| Индекс УДК | 621.382.019.3 |
| Заглавие | Обеспечение надежности полупроводниковых устройств |
| Физич. носитель | Текст |
| Продолж. заглавия | пер. с англ. |
| Ответственность | под общ. ред. А. С. Савиной |
| Место издания | Москва |
| Издательство | Мир |
| Дата издания оригинала | 1964 |
| Объем | 464 с. |
| Аннотация | Книга посвящается проблеме обеспечения надежности полупроводниковых устройств. |
