-
Semiconductor reliability
Пек, Д., Прокассини, А., Джонс, Л., Адамс, Дж., Перри, Дж., Девис, Д., Бевингтон, Дж., Кронлейдж, В., Той, Ч., Блейкмор, Дж.
Москва :
Мир ,
1964 .-
464 с. .-
ил., табл.
-
Защита программного обеспечения
Гроувер, Деррик, Сатер, Роберт, Фипс, Джон, Девис, Д., Паркин, Г., Уихман, Б., Самосуик, М., Харт, Р., Картрайт, Дж., Элсом, С.
Защита программного обеспечения, [Текст], под. ред. Д. Гроувера ; пер. с англ.: канд. техн. наук В. Г. Потемкина, Т. Г. Потемкиной, Л. Г. Чучкиной под ред. канд. техн. наук В. Г. Потемкина
Москва :
Мир ,
1992 .-
286 с. .-
ил.
-
Свободные радикалы в органическом синтезе
Девис, Д., Davies, D. I., Parrott, M. J., Перрет, М.
Свободные радикалы в органическом синтезе, [Текст], [монография], пер. с англ. д-ра хим. наук, проф. Н. С. Зефирова
Москва :
Мир ,
1980 .-
205, [1] с. .-
Парал. тит. л.: англ. .-
