-
Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок N,N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты
Лаппо, А. Н., Мисевич, Алексей Васильевич, Почтенный, Артем Евгеньевич, Стукалов, О. М., Жавнерко, Г. К.
Морфология и электрофизические свойства тонких лазерно-напыленных пленок N,N-диметилдиимида перилентетракарбоновой кислоты, [Текст]
ил.
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г., Минск: Издат. центр БГУ, 2002, С. 103-108
-
Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент
Почтенный, Артем Евгеньевич, Стукалов, О. М., Ильюшонок, Ирина Петровна
Особенности сканирующей туннельной микроскопии высокоомных пленок: теория и эксперимент, [Текст]
ил.
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г., Минск: Издат. центр БГУ, 2002, С. 69-72
-
Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов
Стукалов, О. М., Почтенный, Артем Евгеньевич, Миронов, В. Л., Грибков, Б. А., Гапонов, С. В.
Применение методов СЗМ для локального анализа неоднородной поверхности молекулярных материалов, [Текст]
ил.
5-й Белорусский семинар по сканирующей зондовой микроскопии : сборник докладов, Минск, 7-8 октября 2002 г., Минск: Издат. центр БГУ, 2002, С. 73-79
